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    薄膜厚度測厚儀的原理和標準

    時(shí)間：2020-05-10 發(fā)布：賽成儀器

    　　薄膜厚度測厚儀的原理
    將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面。
    以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測出上下測量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。
    　　薄膜厚度測厚儀的標準

    ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、

    ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

    中國《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規范》（GMP）對軟件的有關(guān)要求（可選配置）

     

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